Eksma 光学滤光片的应用

Eksma 光学滤光片的应用

在使用CCD摄像机进行激光束诊断的系统中，可以测量激光功率，脉冲能量和脉冲持续时间，光谱学，一套用于汞灯，激光线和其他需求的带通滤光片。

Ø在使用CCD摄像机进行激光束诊断的系统中

Ø测量激光功率，脉冲能量和脉冲持续时间

Ø光谱学

Ø提供一组用于汞灯，激光线和其他需求的带通滤光片

Eksma 光学滤光片的应用

我们的标准4轮衰减器有多种滤光片可供选择，允许车轮的256个相对位置，呈现99个不同的传输值，您可以找到与所需值非常接近的匹配值。分立的滤光片可以建立准确的光密度。

我们也可以提供带有1，2，3和更多轮子的设计。

可变轮衰减器随附表1中列出的一组标准，较受欢迎的滤光片。这些标准滤光片由中性灰色玻璃制成，其光谱特性符合图3。

另外，衰减器（车轮和光学元件）可以根据单独的订单制造。我们还可以提供不带滤光片的可变车轮衰减器，您可以自行安装。

在大多数情况下，用于诊断激光辐射的检测器（CCD，光电二极管，光电倍增管等）过于精密，无法直接测量高功率，例如离子激光器或脉冲固态激光器。可能需要衰减器以降低探测器表面的激光功率密度。当激光器的输出功率或功率密度超过检测器的工作（线性）范围或损坏阈值时，须使用光衰减器。（标准草案ISO / TC172 / SC9 / WG1）

例如，典型的市售CCD的损坏阈值为约100mW / cm 2，对于高速光电探测器ARS系列（Antel Optronic Inc.）则为约200mW / cm 2。另一方面，须将激光功率调整到较佳点，该点通常刚好低于检测器的饱和度。例如，典型的市售CCD在632.8 nm处的饱和度仅为0.05 mW /cm²，在1.06 mm处的饱和度仅为5.5 mW /cm²（参见R. Rypma的“调光……”，载于Photonics Spectra N.10，1995，145页）。对于高功率激光器的初步衰减，较简单的方法是仅使用未镀膜的激光级基材的一表面反射。

在此较后阶段，强度调整范围至少应为1000：1或更大，这很有用。即使使用以一个功率电平运行的单波长激光器，在光学系统中不同点进行测量时也可能遇到该范围。

在通过从未镀膜的基材上反射而使强度大大降低之后，某些具有高光学质量的低功率中性密度滤光片可以将光束功率提高到检测系统较佳测量所需的准确水平。