CC余弦校正器

CC余弦校正器

CC余弦校正器

CC 余弦校正器是一款用于光谱辐射取样的光学元件，核心优势是收集 180° 立体角内的辐射，消除取样装置几何结构限制导致的光学耦合问题，保障光线采集均匀性，提升光谱测量准确性。通过内置的朗伯特性漫反射材料，它能够将来自半球空间内的入射光均匀化，从而消除因探头方向性、几何限制和光学耦合不确定性所带来的测量误差，是实现精确、可重复辐照度测量的基础工具。

核心信息

l     180° 接收视场 (Field of View): 能够采集来自完整半球空间（2π立体角）的光信号，适用于环境光、大面积光源及漫射光源的测量。

l     精确的余弦响应: 探头对光的响应强度与入射光角度的余弦值成正比，模拟了平面探测器接收辐射照度的物理模型，确保了测量的准确性。

l     消除方向依赖性: 解决了裸光纤因数值孔径（NA）限制而导致的角度敏感问题，使测量结果对探头摆放位置和角度的微小变化不敏感，提高了测量的可重复性。

l     标准接口: 采用工业标准的 SMA905 接口，可与绝大多数商用光谱仪和光纤附件直接连接，具备良好的兼容性。

l    宽光谱范围: 提供多种散射材料选项，覆盖从紫外（UV）到近红外（NIR）的宽广波段，满足不同应用需求。

产品规格

l     视场角：180°

l     散射材料：UV-VIS 或 VIS-NIR

l     波长范围：200~2500nm

详细参数

应用领域

作为光谱辐射取样的关键光学元件，可广泛应用于需要精准采集光线的光谱测量场景。通过高效收集 180° 立体角内的辐射，消除光学耦合干扰，确保光线采集均匀，为光谱分析提供可靠的基础数据。