HS2048高分辨微型光谱仪

HS2048高分辨微型光谱仪

HS2048高分辨微型光谱仪

HS2048 是一款结构小巧的微型光纤光谱仪，光谱范围可灵活配置，核心优势突出 —— 高分辨率达～0.07nm，杂散光低于 0.1%，波长温漂仅～0.1pixel/℃。适配激光测量、等离子体发射光谱测量、颜色测量、吸光度测量和拉曼测量等多个工业现场场景，是高性价比的工业级光纤光谱仪。

核心产品规格

关键配置

l    低杂散光设计：采用优质光学元器件、特殊消光工艺及优化光路，杂散光低至 0.1% 以下，提升光谱纯度与检测精度；

l    超高分辨率：搭载传统长焦 CT 光路，配合精密光学设计与高性能光栅，分辨率可达 0.07nm；

l    低温漂稳定：波长温漂～0.1pixel/℃，减少环境温度对检测结果的影响；

l    紫外响应优异：配备紫外高灵敏检测器，输出低噪声、高信噪比的准确光谱信号，适配高精度分析；

l    光纤适配性强：可搭配多芯密排集束光纤，光纤插拔强度一致性≤7%；

l    低噪表现：CCD 量化背景噪声≤30RMS（最短积分时间）；

l    接口完备：配置 USB2.0、RS232 通讯接口及 24PIN 交互接口，内置专有 DAC 和 ADC，可实现配套光源的使能、强度控制及功率反馈；

l    采集模式多样：支持单次、连续、软件触发、同步外触发、异步复位外触发。

详细参数表

产品配置表

定制说明

l                      光谱实际分辨率不高于标值的 120%；

l                      光谱范围、分辨率等参数可根据客户实际应用场景定制。

* 光谱实际分辨率不高于标值的 120%

* 光谱仪可根据客户需求定制光谱范围、分辨率等参数

主要应用领域

光谱仪测激光器线宽

激光器线宽是描述激光器性能的重要参数，是指激光器输出的激光频率的宽度。线宽越窄，激光的单色性越好，频率稳定性越高。我们可以使用光谱仪来测量激光器的线宽，适用于激光器生产厂家、科研场所等。

激光波长测量图谱

半导体刻蚀终点判断

光谱仪在半导体刻蚀工艺中用于终点判断，通过实时监测等离子体刻蚀过程中产生 的光谱信号变化，识别不同材料层的特征辐射峰。当光谱信号中的特征峰强度或位置发生预定变化时，系统判定刻蚀达到终点。这种方法具备高精度、实时性和非接触性。广泛应用于半导体制造中的多层结构刻蚀控制。

再结晶钨在气体为 He、0.1 Pa、700W、250V 条件下钨粒子的发射光谱

膜厚测量

基于光的干涉原理，当光照射到薄膜上时，部分光会在膜的上下界面发生反射和透射，形成干涉条纹。通过测量薄膜在不同波长下的反射或透射光谱，分析干涉条纹的频率和幅度变化，可以计算出薄膜的厚度。

膜厚测量

火焰光谱检测

在紫外 - 可见 - 近红外内实现光强探测，可获取火焰在特定平面的相对光强和光谱分布。

火焰光谱检测