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硅光子和PIC测试

简要描述:硅光子和PIC测试
LUNA提供基于光频域反射技术(OFDR)的独/特测试系统,和为现代硅光子 集成器件提供准确和快速的测试方案。

  • 产品品牌:其他品牌
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-12-07
  • 访  问  量:731

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品牌其他品牌价格区间面议
组件类别其他应用领域医疗卫生,环保,化工,电子,综合

硅光子和PIC测试


硅光子和光子集成最/全面、最快速的测试方案

LUNA提供基于光频域反射技术(OFDR)的独/特测试系统,和为现代硅光子 集成器件提供准确和快速的测试方案。

10μm空间分辨率的器件光路损耗测试

Luna的超高空间分辨率背光反射计,具备背向散射级的探测灵敏度,为光无源 器件提供前/所未有的分布式损耗分析。

一台设备即可测试器件的全部光学参数

Luna光矢量分析仪(OVA)能够通过对光无源器件的一次扫描测量,即可完成 对线性传输矩阵 (琼斯矩阵)、插入损耗 (IL)、群延时 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相关损耗 (PDL) 等关键光学参数的测量。

全新6415光器件分析仪

Luna全新的6415是一款同时具备高测量频率和高空间分辨率的背光反射计产 品,同时可提供插入损耗(IL)的透射测试和分析模式,是产线检测和品质控 制的理想选择。

应用

Ø生产测试

Ø质量控制

Ø生产问题诊断

Ø设计表征与分析

Ø验证模型并改进仿真

Ø无源光器件和模块:滤波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光栅、WSS、ROADMs等


示例:平面光波导的表征


平面光波导作为硅光子平台的关 键组成部分,对测量方法提出了 更高的挑战,包括在单位长度内 存在更大的损耗、更高的偏振相 关性等等。

Luna的扫描激光干涉技术,能够通过对器件的扫描,获得沿器件光路的 亚毫米级空间分辨率的损耗测量结果,同时也可获得更全面的其他光学参 数指标。比如对波导光栅的测量,我们能够同时获得波导光栅在时域上的 端面及尺度特性,以及在频域上的频谱响应特性。

使用Luna的分析软件,您可以区分并挑选合适的光栅反射区域,从而可 以轻松观察到TM模和TE模在频谱响应中表现出的不同偏振效应。否则, 整体频谱响应(如下图中红色曲线所示)将被很强的端面反射造成的频谱 响应所充满。


时域响应结果显示,强烈的端面反射和波导光栅反射能够被清晰 的区分和呈现。


通过时域响应能够很容易地确定光栅反射峰值,从而可仅对光栅部 分进行频谱分析(蓝色曲线)。波导的整体频谱响应如红色曲线所示。


先进的硅光子和 PIC 测试解决方案

Luna先进的光学测量系列产品,基于光频域反射技术(OFDR),具有业界领/先的测试动态范围、时域和频谱测试分辨率以及 测试速度。




光矢量分析仪 OVA 5000

• 全面的波导器件表征

• 全面的偏振分析,无需偏振控制器或 准直保偏光纤

• 单次快速扫描,即可获得

IL、RL、PDL、CD、PMD、TE/TM状 态等参数的测试结果

背光反射计 OBR 4600

• 卓/越的硅光子、PIC和光学器件的光路 分布式损耗测试能力

• 10μm长度分辨率; -140dB探测灵敏度

• 易于测量和分析波导散射和损耗特性

• 亚皮秒分辨率的长度偏差测量

光器件分析仪 Luna 6415

•用于产线测试和质量控制的高速分析仪

•单台仪器具有反射和透射两种测量模式

• 高空间分辨率的沿光路长度上的回损 分布测试

• 透射和反射光路的频谱响应分析



硅光子和PIC测试

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