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Semrock BrightLine单波段带通滤光片-4

简要描述：Semrock BrightLine单波段带通滤光片-4
我们拥有一系列高性能，高可靠性的单个荧光带通滤光片，这些滤光片已针对各种荧光仪器进行了优化。这些滤光片只利用我们的单基层结构，以达到最高的性能和可靠度。

产品品牌：其他品牌
厂商性质：代理商
更新时间：2021-11-26
访问量：483

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LAYERTEC非球面光学元件介绍

详细介绍

品牌	其他品牌	价格区间	面议
组件类别	光学元件	应用领域	医疗卫生,环保,化工,电子,综合

Semrock BrightLine单波段带通滤光片-4

我们拥有一系列高性能，高可靠性的单个荧光带通滤光片，这些滤光片已针对各种荧光仪器进行了优化。这些滤光片只利用我们的专///利的单基层结构，以达到最高的性能和可靠度。

除非另有说明，否则所有过滤器均采用标准25 mm圆形黑色阳极氧化铝环封装，其厚度如图所示，透明孔径至少为21 mm。用“- d"表示的部件将被卸载。

Semrock BrightLine单波段带通滤光片-4

中心波长	平均透射率以及带宽		安装尺寸（直径x厚度）	玻璃厚度	型号
365 nm	See Mercury Line filters, page 100				Hg01-365-25
365 nm	> 80% over 2 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-365/2-25
370 nm	> 90% over 6 nm		25 mm x 5.0 mm	3.0 mm	FF01-370/6-25
370 nm	> 90% over 10 nm		25 mm x 5.0 mm	3.0 mm	FF01-370/10-25
370 nm	> 90% over 36 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-370/36-25
375 nm	> 90% over 6 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-375/6-25
375 nm	> 80% over 110 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-375/110-25
377 nm	> 85% over 50 nm		25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-377/50-25
379 nm	> 90% over 34 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-379/34-25
380 nm	> 80% over 14 nm		25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-380/14-25
385 nm	> 90% over 26 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-385/26-25
386 nm	> 90% over 23 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-386/23-25
389 nm	> 93% over 38 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-389/38-25
387 nm	> 90% over 11 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-387/11-25
390 nm	> 90% over 18 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-390/18-25
390 nm	> 93% over 40 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-390/40-25
392 nm	> 93% over 18 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-392/18-25
392 nm	> 93% over 23 nm		25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-392/23-25
395 nm	> 85% over 11 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-395/11-25
400 nm	> 90% over 12 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-400/12-25
400 nm	> 90% over 40 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-400/40-25
403 nm	> 90% over 5 nm		25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-403/5-25
625 mm	See Multiphoton filters, page 41				FF01-625/90-25
628 nm	> 93% over 32 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-628/32-25
628 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-628/40-25
629 nm	> 90% over 56 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-629/56-25
630 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-630/20-25
630 nm	> 90% over 38 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-630/38-25
630 nm	> 90% over 69 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-630/69-25
630 nm	> 92% over 92 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-630/92-25
631 nm	> 90% over 36 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-631/36-25
632 nm	> 93% over 22 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-632/22-25
632 nm See VersaChrome EdgeTM filters, page 78 FF01-632/148-25	See VersaChrome EdgeTM filters, page 78				FF01-632/148-25
635 nm	> 93% over 18 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-635/18-25
636 nm	> 90% over 8 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-636/8-25
637 nm	> 93% over 7 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-637/7-25
640 nm See Laser Diode Clean-Up filters, page 94 LD01-640/8-25	See Laser Diode Clean-Up filters, page 94				LD01-640/8-25
640 nm	> 93% over 14 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-640/14-25
640 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-640/20-25
640 nm	> 90% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-640/40-25
641 nm	> 93% over 75 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF02-641/75-25
642 nm	> 93% over 10 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-642/10-25
647 nm	> 92% over 57 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-647/57-25
650 nm	> 93% over 13 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-650/13-25
650 nm	> 90% over 54 nm	25 mm x 5.0 mm		3.0 mm	FF01-650/54-25
650 nm	> 95% over 60 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-650/60-25
650 nm	> 93% over 100 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-650/100-25
650 nm	> 93% over 150 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-650/150-25
650 nm	> 90% over 200 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-650/200-25
655 nm	> 90% over 15 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-655/15-25
655 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-655/40-25
657 nm	> 92% over 38 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-657/38-25
660 nm	> 93% over 13 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-660/13-25
660 nm	> 90% over 30 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-660/30-25
660 nm	> 90% over 52 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-660/52-25
661 nm	> 93% over 11 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-661/11-25
661 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-661/20-25
662 nm	> 93% over 11 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-662/11-25
663 nm	> 90% over 18 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-663/18-25
665 nm	> 93% over 150 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-665/150-25
670 nm	> 95% over 30 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-670/30-25
673 nm	> 90% over 11 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-673/11-25
675 nm	> 90% over 67 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-675/67-25
676 nm	> 90% over 29 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-676/29-25
676 nm	> 94% over 37 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-676/37-25
679 nm	> 90% over 41 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-679/41-25
680 nm	> 93% over 13 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-680/13-25
680 nm	> 90% over 22 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-680/22-25
680 nm	> 93% over 42 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-680/42-25
681 nm	> 90% over 24 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-681/24-25
684 nm	> 93% over 24 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-684/24-25
685 nm	> 90% over 10 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-685/10-25
685 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF02-685/40-25
692 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-692/40-25
694 nm	> 90% over 44 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-694/44-25
697 nm	> 90% over 58 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-697/58-25
700 nm	> 93% over 13 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-700/13-25
708 nm	> 90% over 8 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-708/8-25
708 nm	> 93% over 75 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-708/75-25
709 nm See VersaChrome EdgeTM filters, page 78 FF01-709/167-25	See VersaChrome EdgeTM filters, page 78				FF01-709/167-25
710 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-710/40-25
711 nm	> 90% over 25 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-711/25-25
716 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-716/40-25
716 nm	> 90% over 43 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-716/43-25
719 nm	> 93% over 60 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-719/60-25
720 nm	> 93% over 13 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-720/13-25
720 nm	> 90% over 24 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-720/24-25
721 nm	> 93% over 65 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-721/65-25
725 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-725/40-25
731 nm	> 90% over 137 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-731/137-25
732 nm	> 90% over 68 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-732/68-25
736 nm	> 90% over 128 nm	25 mm x 3.5 mm		1.05 mm	FF01-736/128-25
740 nm	> 93% over 13 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-740/13-25
747 nm	> 93% over 33 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-747/33-25
755 nm	> 93% over 35 nm	25 mm x 5.0 mm		3.5 mm	FF01-755/35-25
760 nm	> 93% over 12 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-760/12-25
766 nm	> 90% over 13 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-766/13-25
769 nm	> 93% over 41 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-769/41-25
775 nm	> 93% over 46 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-775/46-25
775 nm	> 90% over 140 nm	25 mm x 3.5 mm		2.0 mm	FF01-775/140-25
780 nm	> 93% over 12 nm	25 mm x 5.0 mm		2.0 mm	FF01-780/12-25

光学滤光片简介

滤光片选择性地透射光谱的一部分，同时拒绝透射其余部分。爱特蒙特光学的光学滤光片常用于显微镜、光谱学、化学分析和机器视觉，可提供各种过滤类型和精度等级。本应用笔记介绍了用于制造爱特蒙特光学滤光片的不同技术、一些关键规范的定义以及爱特蒙特光学提供的各种滤光片的描述。

光学滤光片关键术语

虽然滤光片与其他光学组件有许多相同的规范，但是为了有效地了解并确定哪种滤光片适合您的应用，应该了解滤光片中的许多特定规范。

中心波长 (CWL)

用于定义带通滤光片的中心波长描述频谱带宽的中点，滤光片在此之上传输。传统的镀膜光学滤光片倾向于在中心波长附近达到大的透射率，而镀加硬膜的光学滤光片往往在光谱带宽上有相当平坦的传输轮廓。

带宽

带宽是一个波长范围，用于表示频谱通过入射能量穿过滤光片的特定部分。带宽又称为FWHM（图1）。

图 1: 中心波长和半峰全宽说明

半峰全宽 (FWHM)

FWHM
描述带通滤光片将传输的频谱带宽。该带宽的上限和下限是在滤光片达到大透射率的 50% 时的波长下定义的。例如，如果滤光片的大透射率是 90%，那么滤光片达到透射率之 45% 时的波长将定义 FWHM 的上限和下限。10 纳米或更低的 FWHM 被认为是窄带，通常用于激光净化和化学检测。25-50 纳米的 FWHM 经常用于机器视觉应用；超过 50 纳米的 FHWM 被认为是宽带，通常用于荧光显微镜应用。

截止范围

阻断范围是用于表示通过滤光片衰减的能量光谱区域的波长间隔（图2）。阻断程度通常会在光密度中定。

图 2: 截止范围说明

斜率

斜率是通常在边缘滤光片上定义的规范，如短波通或长波通滤光片，用来描述滤光片从高截止转换为高透射率的带宽。可以从各种起点和终点定斜率，作为截止波长的百分比。爱特蒙特光学有限公司通常将斜率定义为从 10% 传输点到 80% 传输点的距离。例如，将期望具有 1% 斜率的 500 纳米长波通滤光片在 5 纳米（500 纳米的 1%）带宽上从 10% 的透射率转换为 80% 的透射率。

光密度(OD)

光密度描述被滤光片阻断或拒绝的能量量。高光密度值表示低透射率，低光密度则表示高透射率。6.0或更大的光密度用于两端的阻断需求，如拉曼光谱或荧光显微镜。3.0-4.0的光密度是激光分离和净化、机器视觉和化学检测的理想选择，而 2.0 或更少的光密度是颜色排序和分离光谱顺序的理想选择。

图3:光密度说明

二向色性滤光片

二向色性滤光片是用于取决于波长透射率或反射光的滤光片类型；特定波长范围透射的光则鉴于不同范围的光线反射或吸收（图4）。二向色性滤光片常用于长波通和短波通应用。

图4:二向色性滤光片镀膜说明

起始波长

起始波长是用于表示在长波通滤光片中透射率增加至50%波长的术语。起始波长由图5中的λcut-on起始表示。

图 5:起始波长说明

截止波长

截止波长是用于表示在短波通滤光片中透射率降低至50%波长的术语。截止波长由图6中的λcut-off截止表示。

图6:截止波长说明

Semrock成功地将稳定先进的溅射沉积系统与沉积控制技术，不同的预测算法，工艺改进和批量生产能力相结合。Semrock性能优良的光学滤光片为生物技术和分析仪器行业树立了标准。

Semrock滤光片全部由离子束溅射和专有的单基片结构制成，可实现较高的透射率。更加陡峭的边缘，准确的波长精度和精心优化的遮挡意味着更好的对比度和更快的测量-即使在紫外线波长下也是如此。

Semrock滤光片具有很长的使用寿命和优良的性能，可确保获得优良的图像。与升级相机和物镜的成本相比，它们可能是提高显微镜性能的简单经济的方法。

经验证的可靠性

所有Semrock滤光片均具有出色的可靠性。简单的全玻璃结构加上离子束溅射硬玻璃涂层（与涂层玻璃一样坚硬）意味着它们几乎不受湿度和温度引起的降解的影响，并且易于清洁和处理。

我们充满信心地为滤光片提供全面保修，让您放心。我们的滤光片经过精心设计，可以在逐年测试中保持其高水平的性能，并通过消除费用和更换成本的不确定性来降低您的拥有成本。

下图显示了随着时间的推移，氙弧灯的暴露如何影响每个滤光片的光谱特性。一天之后，传统的软涂层DAPI滤光片的透射率下降了42％。我们对其他常见的励磁滤光片进行了类似的测试，发现每个软涂层滤光片都会损失传输和通带，而硬涂层Semrock滤光片则不会受到影响。

Semrock滤光片已经过测试，可以满足或超过在苛刻的军事规格MIL-STD-810F，MIL-C-48497A，MIL-C-675C和国际标准ISO 9022-中规定的环境和物理耐久性要求。

可重复的结果

无论您是从一次运行还是从最后一次运行使用滤光片，结果都将始终相同。我们高度自动化的批量生产系统会密切监控流程的每个步骤，以确保每个滤光片的质量和性能。最终用户受益于滤光片之间可变性的降低，OEM制造商可以依靠安全可靠的供应线。

Kola Deep™光谱测量系统：测量更深的阻挡

图1：即使在紫外线远处，Kola Deep系统也能准确测量狭窄的LaserLine滤光片（Semrock LL01-248），其陡峭的边缘从高透射率到超过OD7。蓝色显示的Kola Deep测量值可以准确地跟踪绿色的理论曲线。为了进行比较，标准光谱仪（Perkin Elmer Lambda 950）的测量结果以红色显示，并在OD 3处停止跟踪边缘。

可乐深光谱测量系统将光密度（OD）理论带入了测量现实。我们的工程师开发了一套专有的新系统，可以对Semrock品牌光学滤波器的陡和深光谱特征进行可靠的测量，从而确保您的仪器将提供优良的灵敏度。

ØKola Deep可以评估在紫外，可见和近红外光谱中对OD 9+的阻挡

ØKola Deep解决了相对于边缘波长大于0.2％的边缘，从90％透射到OD 7以上的问题

滤光片的测量

由于标准计量技术的局限性，经常无法准确地确定薄膜干涉滤光片的测量光谱特性，尤其是在边缘较陡而较深的情况下。光学滤波器提供的实际阻塞不仅取决于其设计频谱，还取决于滤波器的物理缺陷，例如在薄膜涂层过程中产生的针孔以及诸如灰尘或灰尘之类的表面缺陷。使用市场上可买到的分光光度计来测量光学滤光片的光谱性能，但是当光学滤光片具有较高的边缘陡度和/或非常深的阻塞时，这些仪器可能会受到重大限制。

由于这些限制，实际滤波器频谱与其测得的表示之间存在三个主要差异（见图2）。一个差异是尖锐的光谱特征的“四舍五入"。这是由于分光光度计探头光束的带宽不为零所致。第二个测量差异是有限的OD测量范围，这是分光光度计灵敏度有限的结果。第三差异是从高阻塞到高传输的非常陡峭过渡的测量所不同的，被称为“边带测量伪像"。该伪像是由非单色探测光束引起的，该探测光束在其带宽之外的波长处也具有较弱的边带。

图2：使用商用分光光度计观察到的测量伪影

Semrock利用替代方法来评估滤光片光谱。图3显示了“ E级"RazorEdge®滤光片的陡峭边缘的五个测量光谱，该光谱可确保在OD> 6的情况下阻挡532 nm的激光线，并在激光波长的0.5％之内过渡到高透射率（534.7倍）纳米）。测得的光谱覆盖在滤波器的设计光谱上（蓝线）。如图所示，测量仪器和技术极大地影响了滤波器的测量光谱。该图中的测量方法A来自定制的分光光度计。此测量使用仪器设置，例如较短的检测器积分时间和低分辨率，因为这些设置经过优化，可在薄膜滤光片制造过程中从大量样品滤光片非常快速地收集数据。但是，这种方法的灵敏度和分辨率很差。测量方法B使用标准的商业分光光度计（Perkin Elmer Lambda 900系列）。如上所述，实际滤波器光谱与测量光谱之间的所有差异在此测量中都是显而易见的。测量方法C和D使用与方法A相同的定制分光光度计。该分光光度计的基本工作原理如图4所示。该仪器使用低噪声CMOS摄像头（即检测器阵列），能够测量同时具有很宽的波长范围。测量方法C使用的仪器设置（主要是积分时间和分辨率）设计用于增强对陡峭边缘和深边缘的测量，但是“边带测量伪影"仍然很明显。测量方法D是对方法C的修改，该方法应用了其他过滤以消除此伪像。方法E显示了使用经过仔细过滤的532 nm激光进行的非常准确的测量结果，以及滤光器本身的角度调整。使用理论模型，将实验获得的透射率与角度的数据转换为透射率与波长的结果。此测量方法接近实际设计曲线，但是不适用于大量过滤器的质量保证。