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Eksma 光学平面--光学元件

简要描述:Eksma 光学平面--光学元件
光学平面用于测试和评估其他光学元件。在公寓和被评估对象之间的空气中会形成干涉图案,通常通过公寓而不是通过对象可以看到这种图案。图案由交替的亮带和暗带或条纹组成,它们是气膜厚度的轮廓图。如果光学元件的表面比要评估的表面明显平坦,则将干涉图样直接解释为要评估的表面的轮廓图是正确的。

  • 产品品牌:Eksma
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-03-23
  • 访  问  量:28

详细介绍

品牌其他品牌价格区间面议
组件类别光学元件应用领域医疗卫生,环保,化工,电子,综合

Eksma 光学平面--光学元件


Eksma 光学平面--光学元件

光学平面用于测试和评估其他光学元件。我们提供单面光学平面,其参考面的平坦度为λ/ 20 @ 633 nm。

产品介绍

Ø参考面的平面度:λ/ 20

Ø非常适合测试和评估其他光学组件

光学平面用于测试和评估其他光学元件。在公寓和被评估对象之间的空气中会形成干涉图案,通常通过公寓而不是通过对象可以看到这种图案。图案由交替的亮带和暗带或条纹组成,它们是气膜厚度的轮廓图。如果光学元件的表面比要评估的表面明显平坦,则将干涉图样直接解释为要评估的表面的轮廓图是正确的。

如果将平面用于对象的顶部,并且通过平面看到干涉图案,则在平面的顶表面(不接触被评估对象的表面)上具有抗反射镀膜是有利的。

产品型号

型号

直径D

厚度T

230-1208E

ø 25.4 mm

8.0 mm

230-1208M

ø 25.0 mm

8.0 mm

230-1410E

ø 38.1 mm

10.0 mm

230-1410M

ø 40.0 mm

10.0 mm

 

材料

UV FS

直径公差

+0.00, -0.12 mm

一表面平整度:

λ/20 @ 633 nm

二表面平整度:

2 λ @ 633 nm

厚度公差

±0.2 mm

 

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